我們需要根據(jù)實際情況選擇其中一種適合的方法對環(huán)境試驗箱進行校準，下面我們就針對環(huán)境試驗箱常用的這三種不同的校準方法的優(yōu)缺點進行介紹：
1.主要是在零負載的情況下進行校準。相比較來說，這種方法的主要優(yōu)點為：能夠?qū)Νh(huán)境箱的整個工作區(qū)域進行校準，能夠?qū)Νh(huán)境試驗箱的適用性做出有效的評估。而且在更換測試樣品之后，不需要重新進行校準。
這種校準方法的缺點就是我們無法及時得知測試樣品會對環(huán)境試驗箱的性能產(chǎn)生怎樣的影響。
2.是在有負載的情況下進行校準。主要包括：其能夠較為準確的檢測出所用測試樣品對環(huán)境試驗箱性能的影響，而且便于得到測試樣品關(guān)鍵部位的環(huán)境試驗的詳細信息。當然，這種方法也有缺點，比如在更換測試樣品之后需要重新進行校準。
3.一般的在使用環(huán)境試驗箱的過程中，進行實時測量。這種方法除了具有第二種方法的優(yōu)勢之外，還能夠得出測試樣品在環(huán)境試驗過程中全面的環(huán)境參數(shù)，這種方法一般是在對環(huán)境要求較高的情況喜愛使用。
